Nahezu kein Bereich der Wirtschaft ist derart von Innovation und Dynamik geprägt wie die Mikroelektronik. Die Weiterentwicklung und zunehmende Integration mikroelektronischer Bauelemente stellt umfangreiche Anforderungen an den Chip und an die Kontaktmaterialien. Neben klassischen Aufgaben, wie die Kontrolle von Schichtaufbauten und Dotierungsprofilen, müssen zur Gewährleistung gesteigerter Zuverlässigkeitserwartungen zunehmend Einflüsse von Umweltfaktoren betrachtet werden.
SGS INSTITUT FRESENIUS als führendes Labor zur Materialanalytik von Mikroelektronik unterstützt Sie mit langjähriger Expertise und der besten Gerätebasis bei der Technologieentwicklung, Qualitätssicherung und Ausfallanalyse.
Unser Standort in Dresden verfügt über zahlreiche Geräte und das entsprechende Know-how zur Analyse von örtlich begrenzten Oberflächeneffekten.
Zu Qualitätssicherungszwecken ist die Kontrolle von Schichtaufbau, Schichtdicke, Homogenität, Reinheit und Strukturierung sowie die Kontrolle der Grenzflächen entscheidend.
Der Rückbau eines elektronischen Bauteils kann ähnlich herausfordernd sein, wie dieses herzustellen und erfordert viel Erfahrung und Expertenwissen.
Mobile Ionen oder auch ionische Kontamination im Allgemeinen beeinflussen unter bestimmten Umweltbedingungen die Zuverlässigkeit mikroelektronischer Systeme negativ. Hier finden Sie weitere Informationen
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